一、參考試塊的用途 1.測定儀器和探頭的性能 2.在探傷過程中，調整和控制綜合靈敏度不發(fā)生變化。 3.復查和控制以前使用儀器的標準（工作狀態(tài)）。 4.區(qū)別材料的性質

  參考試塊是生產和使用儀器時，檢查和控制其質量及工作狀態(tài)的重要工具。現在通用的是I.I.W(或CSK-3)型參考試塊。參考試塊可以測定儀器的靈敏度、分辨力、盲區(qū)、掃描線線性、放大器線性、斜探頭標志線、折射角度、方向性、斜探頭在熒光屏上的真零點（即波束離開斜探頭有機玻璃時的零點）等。而靈敏度、盲區(qū)、分辨力取決于儀器及探頭的性能。

  二、時間基線（掃描線）線性的測定  用直探頭（縱波）測定，發(fā)射波調整在熒光屏的零點上。例如時間基線為0~100毫米時，將探頭放在試塊的A位置，以25毫米的多次反射波進行校正。微調掃描速度，使第一次反射波出現在25處，如果掃描線性好，第二、三、四次應分別與50、75、100刻度重合。否則多次反射波不成比例的出現在熒光屏上。

  三、放大器線性的測定  如下圖所示，將超聲波探傷儀探頭放在F位置的有機玻璃塊上探測，有機玻璃的厚度相當于50毫米鋼的厚度。測定時，靈敏度的控制由最小開至最大，高穿透力儀器有6~10個反射波，低穿透力的儀器只有2~4個反射波。

  相對靈敏度測定，如下圖，將超聲波探傷儀探頭放在C位置。靈敏度控制最初放在最小位置，移動探頭，直到熒光屏上出現1.5毫米洞反射回的波為止。在給定的靈敏度控制位置下，反射的高度就是相對靈敏度。

  五、盲區(qū)測定 如下圖所示，將探頭放在D位置上，可測的盲區(qū)小于10毫米。將探頭放在E位置上，可測的盲區(qū)小于5毫米。

  六、分辨力的測定 下圖探頭在G位置，可測定分辨力。探頭移動，使之在85、91和100刻度處獲得三個回波。如果三個波是分離的，則分辨力好。否則，分辨力差。

  七、斜探頭波束零點線的校正 斜探頭有機玻璃楔塊上的零點線和壓電晶片的中心線重合。斜探頭在H位置移動，直到從100毫米弧度處獲得最大的反射波為止，如斜探頭零點線與試塊上0點重合，則斜探頭的零點線正確。否則，需移動探頭的晶片，直至重合為止。此時斜探頭的零點線即為聲波主線的入射點。

  八、折射角的測定 如下圖示，探頭在J位置，移動超聲波探傷儀探頭，直到獲得從有機玻璃圓柱塊處反射回的波幅最高為止，此時探頭零點線在試塊上所指的角度即為其折射角度（入射點至有機玻璃圓柱塊中心的連線與零點線的夾角），試塊上刻有幾個固定的折射角。

  九、斜探頭真零點的校正 斜探頭聲波經過有機玻璃延遲一段時間后，射入工件，這一段時間需在熒光屏零點刻度上予以校正。如下圖示，探頭在K處移動，直到獲得從100毫米弧度反射回的波幅最高為止，然后調整掃描線的“水平位移”及“細調”，使兩個反射波出現在40°及90°處為止。刻度40°的波系從100毫米處直接反射回探頭的波（路徑200毫米），而90°處的波系由100毫米處及25毫米槽處往復反射回至探頭的波（路徑450毫米）。此時，熒光屏的零點刻度即為聲波離開斜探頭有機玻璃楔塊時的零點。